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TD8160 单片非晶磁性测试系统

◉   专用于测量非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性。


◉   由励磁及精密测量装置 ( 40 Hz~65 Hz,可定制至400 Hz )、非晶单片磁导计、全自动测量软件组成。


◉   参考标准:GB/T 19345.1-2017《非晶纳米晶合金 第1部分:铁基非晶软磁合金带材》 (天恒测控参与起草)

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